Zakład Analizy Śladowej, Wydział Chemii UAM
Przejdź do treści
Strona główna
Materiały Dydaktyczne
Aspekty metodyczne
Metrologia w Praktyce
Metrologia w Chemii
Spektrometria Atomowa
Techniki sprzężone w analizie śladowej
Metrologia AŻ
Metrologia i chemometria w analizie produktów spożywczych
Studia Podyplomowe Analityka Chemiczna
Rekrutacja
Kontakt
SP Materiały dydaktyczne 2023/24
Konferencje archiwalne
XIII Konferencja „Analiza Specjacyjna – Możliwości i Kierunki Rozwoju”
Rejestracja
Tematyka Konferencji
Program Konferencji
Zaproszeni Goście
Warsztaty
Komitet Naukowy Konferencji
Organizatorzy
Partnerzy Konferencji
Kontakt
VII Konferencja Chemometria i Metrologia w Analityce
Rejestracja
Tematyka konferencji
Program Konferencji
Warsztaty
Zaproszeni goście
Komitet Honorowy i Naukowy Konferencji
Organizatorzy
Partnerzy konferencji
Kontakt
Spójność pomiarowa – certyfikaty
Strona główna
Materiały Dydaktyczne
Aspekty metodyczne
Metrologia AŻ
Metrologia w Chemii
Metrologia w Praktyce
Spektrometria Atomowa
Techniki sprzężone w analizie śladowej
Metrologia i chemometria w analizie produktów spożywczych
Studia Podyplomowe Analityka Chemiczna
Rekrutacja
Kontakt
SP Materiały dydaktyczne 2023/24
Konferencje archiwalne
XIII Konferencja „Analiza Specjacyjna – Możliwości i Kierunki Rozwoju”
VII Konferencja Chemometria i Metrologia w Analityce
Karty charakterystyki
Strona administratora
Strona główna
Deklaracja dostępności
Metrologia – Spójność pomiarowa – materiały do ćwiczeń
Spójność pomiarowa – certyfikaty
